平成23年4月19日

教職員 各位

研究設備センター
基盤研究設備部門長	浅井 吉蔵
レーザー新世代研究センター	白川 晃

フラッシュ法熱物性測定装置 操作講習会のお知らせ

2011年3月に新しく導入されました『フラッシュ法熱物性測定装置 LFA447』の操作講習会を開催します．
参加希望の方は 5月6日（金）までに，レーザー新世代研究センター 白川までお申し込みください．
※研究室単位で申し込みをお願いします．
※応募者多数の場合は，研究室の何人かの代表者に受講していただく場合もあります．

記

（１）	利用講習会 日時　5月13日（金）10時～17時
場所：	東6号館149号室
内容：	午前は基本的な利用方法，熱拡散率・比熱容量・熱伝導率の測定法について説明します。 午後は実際に測定する実習です。薄膜や異方性材料，粉体などのアドバンスな測定方法についても学びます。 （午前だけの受講を希望される方は、その旨お知らせ下さい）
参加資格：	教職員と4年生以上の学生
費用：	無料
連絡先：	akira@ils.uec.ac.jp（内線：5714）
装置の詳細：	NETZSCH　キセノンフラッシュアナライザー　LFA447 NanoFlash http://www.bruker.jp/axs/xray/product/tan07_lfa447.html 温度可変範囲：室温～300C 試料寸法：　0.1～6mm厚,Φ6mm～25.4mm角（照射エリア25.4mm角以上） 熱拡散率測定範囲：　0.01～1000mm2/s 比較法による比熱容量、熱伝導率測定 熱伝導率測定範囲：　0.1-2000W/m/K 自動試料交換機能：　4個 サンプルホルダー：　標準ホルダー(10x10)、異方性試料面内測定ホルダー、粉体ホルダー、液体測定ホルダー