平成23年4月22日
教職員 各位
研究設備センター | |
基盤研究設備部門長 | 浅井 吉蔵 |
表面・界面構造解析室長 | 三浦 博己 |
電子顕微鏡講習会のお知らせ
本年度は下記の要領で電子顕微鏡の講習会を開催いたします。電子顕 微鏡利用申請者の方には、一度は対象装置の講習受講をお願いしてお ります。受講希望者はテキストの発注の都合上、5月9(月)までに、 三浦(miura@mce.uec.ac.jp、内線5409)までお申し込みください。 ただし、許容人数に限りがございますので、参加希望者が多数の場合 は日程と参加人員の調整が行われる場合もございます。あらかじめご 了承ください。
記
1. | 熱電子放出型走査電子顕微鏡SEM(日立S-3500H)
日 時:5月10日(火) |
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2. | 結晶方位分散分析走査電子顕微鏡(日立S-4300に備え付けのEBSD装置の操作方法)
日 時:5月26日(木) |
3. | 熱電子放出型透過型電子顕微鏡TEM(日本電子JEM-2010)
日 時:6月2日(木)~3日(金)の2日間 |
4. | 電界放出型透過型電子顕微鏡TEM(日本電子JEM-2100F)
日 時:6月16日(木)~17(金)日の2日間 |
装置および講習内容等に関する問い合わせは、研究設備センター・技術支援員の木村(kimura@cia.uec.ac.jp、内線5815)までお願いいた します。