平成24年4月9日

教職員 各位

研究設備センター長鈴木 勝
レーザー新世代研究センター白川 晃

フラッシュ法熱物性測定装置 操作講習会のお知らせ

平成24年度『フラッシュ法熱物性測定装置 LFA447』の操作講習会を開催します.
参加希望の方は 5月8日(火)までに,研究設備センターまでお申し込みください.
※研究室単位で申し込みをお願いします.
※応募者多数の場合は,研究室の何人かの代表者に受講していただく場合もあります.

利用講習会
日時:5月15日(火)10時~15時
場所:東6号館149号室
内容:午前は基本的な利用方法,熱拡散率・比熱容量・熱伝導率の測定法について説明します。
午後は実際に測定する実習です。
薄膜や異方性材料,粉体などのアドバンス な測定方法についても学びます。
(午前だけの受講でも問題ございません)
参加資格:教職員と4年生以上の学生
費用:無料
申込先:kamimizu@cia.uec.ac.jp(研究設備センター・神水 内線5732)
申込締切:5/8(火)
装置の詳細:NETZSCH キセノンフラッシュアナライザー LFA447 NanoFlash
http://www.bruker.jp/axs/xray/product/tan07_lfa447.html
温度可変範囲:室温~300C
試料寸法: 0.1~6mm厚,Φ6mm~25.4mm角(照射エリア25.4mm角以上)
熱拡散率測定範囲: 0.01~1000mm2/s
比較法による比熱容量、熱伝導率測定
熱伝導率測定範囲: 0.1-2000W/m/K
自動試料交換機能: 4個
サンプルホルダー: 標準ホルダー(10x10)、異方性試料面内測定ホルダー、粉体ホルダー、液体測定ホルダー