教職員各位

研究設備センター
基盤研究設備部門長	平野 誉
表面・界面構造解析室長	三浦 博己

電子顕微鏡講習会のお知らせ

本年度は下記の要領で電子顕微鏡の講習会を開催いたします。電子顕微鏡の利用申請者の方には、一度は対象装置の講習受講をお願いしております。受講希望者はテキストの発注の都合上、6月14日（木）までに、三浦（miura@mce.uec.ac.jp、内線5409）までお申し込みください。ただし、許容人数に限りがございますので、参加希望者が多数の場合は日程と参加人員の調整が行われる場合もございます。あらかじめご了承ください。

記

1.	熱電子放出型透過型電子顕微鏡TEM(日本電子JEM-2010) 日 時：6月27日(水)～28日(木)の2日間 受講料金：講師派遣料を参加者であたまわり 参加資格：教職員と大学院以上の学生
2.	電界放出型透過型電子顕微鏡TEM(日本電子JEM-2100F) （JEM-2100Fに備え付けのEDS分析装置による分析方法） 日 時：6月29日(金)の1日間 受講料金：講師派遣料を参加者であたまわり 参加資格：JEM-2010を講習済みで一年以上の利用実績のある大学院以上の学生と教職員
3.	熱電子放出型走査電子顕微鏡SEM(日立S-3500H) 日 時：6月26日（火） 受講料金：講師派遣料を参加者であたまわり 参加資格：教職員と大学院以上の学生
4.	結晶方位分散分析走査電子顕微鏡 （日立S-4300に備え付けのEBSD装置の操作方法） 日 時：6月19日（火） 受講料金：講師派遣料を参加者であたまわり 参加資格：一年以上、SEM（S-3500H）を利用実績のある大学院以上の学生と教職員

装置および講習内容等に関する問い合わせは、研究設備センター・技術支援員の木村 （kimura@cia.uec.ac.jp、内線5815）までお願いいた します。