平成25年4月19日
教職員各位
　　　　　　　　　　　　　研究設備センター
　　　　　　　　　　　　　基盤研究設備部門長　　　　平野 誉
　　　　　　　　　　　　　表面・界面構造解析室長　　三浦 博己

　　　　　　　　電子顕微鏡講習会のお知らせ

本年度は下記の要領で電子顕微鏡の講習会を開催いたします。電子顕
微鏡の利用申請者の方には、一度は対象装置の講習受講をお願いしてお
ります。受講希望者はテキストの発注の都合上、5月15（水）までに、
研究設備センター・木村 （kimura@cia.uec.ac.jp、内線5815）まで、
氏名・学年・メールアドレスを記載して、研究室ごとにお申し込みください。
ただし、許容人数に限りがございますので、参加希望者が多数の場合
は日程と参加人員の調整が行われる場合もございます。あらかじめご
了承ください。
　　　　　　　　　　　記

1. 熱電子放出型透過型電子顕微鏡TEM(日本電子JEM-2010)
　　日 時：6月12日(水)～13日(木)の2日間
　　受講料金：講師派遣料を参加者であたまわり
　　参加資格：教職員と大学院以上の学生

2. 電界放出型透過型電子顕微鏡TEM(日本電子JEM-2100F)
　　　（JEM-2100Fに備え付けのEDS分析装置による分析方法）
　　日 時：6月14日(金)の1日間
　　受講料金：講師派遣料を参加者であたまわり
　　参加資格：JEM-2010を講習済みで一年以上の利用実績
　　　　　　　のある大学院以上の学生と教職員

3. 熱電子放出型走査電子顕微鏡SEM(日立S-3500H)
　　日 時：6月11日（火）
　　受講料金：講師派遣料を参加者であたまわり
　　参加資格：教職員と大学院以上の学生

4. 結晶方位分散分析走査電子顕微鏡
　　（日立S-4300に備え付けのEBSD装置の操作方法）
　　日 時：6月18日（火）
　　受講料金：講師派遣料を参加者であたまわり
　　参加資格：一年以上、SEM（S-3500H）を利用実績
　　　　　　　のある大学院以上の学生と教職員

装置および講習内容等に関する問い合わせは、研究設備センター・技
術支援員の木村（kimura@cia.uec.ac.jp、内線5815）までお願い致します。