平成26年4月22日
教職員 各位| 研究設備センター | 基盤研究設備部門長 | 平野 誉 |
| SEM・TEM 設備管理者 | 桑原 大介 |
透過型電子顕微鏡観察の「参加費無料のデモンストレーション」について
研究設備センターでは、今年度より透過型電子顕微鏡（TEM)の利用拡大を狙い、説明会や利用規定の改善を進めており、このたび、「参加費無料のデモンストレーション」を実施することになりました。
従来は、最初に有料の講習会への参加義務があり、利用の敷居が高い状況にありまし
た。
今年度より、利用者獲得のため、まず「参加費無料のデモンストレーション」を実施して、TEMを体験していただいた上で、運用することとしました。
TEM測定では、サンプル作製と観察に経験が非常に重要で、測定をためらう先生方もいらっしゃるかもしれません。研究設備センターでは、「TEM担当高度技術支援員」として、木村誠二氏が勤務しており、皆様の測定をサポートする体制を整えていますので、ご安心ください。
『高度技術支援員によるTEM測定のデモンストレーション』では、TEM測定の流れ、測定に必要な技術（知識）、準備すべき消耗品等について解説します。
TEM測定を考えていたけれども、敷居が高く躊躇しておられた研究室におかれましてはまず、この『TEM測定のデモンストレーション』に学生を参加させてみてはいかがでしょうか。
さらに、TEM測定に関するご要望も受け付けます。
是非ともご検討どうぞよろしくお願いします。
記
◎高度技術支援員によるTEM測定のデモンストレーション（参加費無料）
| 日時： | 5月15日(木) 10時40分～12時10分（第1回） 5月15日(木) 14時40分～14時10分（第2回） |
|---|---|
| （注） | 第1回，第2回は，同じデモを行います． |
| 申込先： | 研究設備センター 木村誠二 東6-135室 TEL：5815，E-mail：kimura@cia.uec.ac.jp |
| ※※ | 研究室単位での申し込みをお願いいたします． 申し込み時には，希望の回をお知らせください． 希望者多数の場合は，研究室の代表者に受講していただきます． |
| 費用： | 無料 |
| 場所： | 東6号館102号室 |
| 締切： | 5月9日（金） |