| 日本分光（株） | J-720W | 管理責任者： | 安井 正憲 | 基盤理工学専攻 | 設置場所： | 東6-137 |
装置概要
- 左および右円偏光の試料による吸収の差（円二色性スペクトル）を測定する．
- おもな用途
- (a) 光学活性な試料の分子構造に関する情報
- (b) 有機物および無機物の絶対配置の決定
- (c) タンパク質や核酸等の生体高分子の高次構造の解明
測定できる物質、状態、大きさ等
- 各種溶液（光路長1mmと10mmのセル），固体物質の場合はペレット状に加圧整形しても測定可能
- MCD（磁気円二色性）測定用の永久磁石を付属
- ペルチェ冷却式温度制御装置を設置可能
