基盤研究設備部門 2023.08.292025.08.30 お知らせ自動測定・遠隔操作の手引き TEM ライセンス制について 基盤研究設備部門の設備使用について2022年4月11日 設備一覧 表面・界面構造解析室X線光電子分光装置 ESCA 電子線元素状態分析装置 EPMA 波長分散型蛍光X線分析装置 ショットキー走査型電子顕微鏡 200ｋV熱電子放出型透過型電子顕微鏡 200ｋV電界放出型透過型電子顕微鏡 携帯用小設備サーベイメーター ポケット線量計 化学構造解析室固体対応超伝導フーリエ変換NMR 超伝導フーリエ変換NMR(500MHz) MALDI-スパイラルTOF 質量分析装置 ESI-TOF型質量分析装置 LCQイオントラップ型質量分析計 円二色性分散計 熱分析装置 HPC型単結晶X線回折装置 DSC粉末X線同時測定装置 精密構造解析用X線回折装置 有機元素分析装置 共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡 高速液体クロマトグラフィーシステム 分析・計測機器室最先端三次元形状測定・評価システム 超伝導量子干渉型磁束計MPMS3 SQUID 超伝導量子干渉型磁束計 SQUID 高磁場多目的物性測定システム PPMS 電子スピン共鳴装置 高速応答FT-IR 顕微レーザーラマン分光器 マクロフォトルミネッセンス測定装置 温度可変ホール測定装置 電磁環境測定装置（電波暗室） 絶対PL量子収率測定装置 フラッシュ法熱物性測定装置 示差走査熱量計 無響室 最先端材料特性評価システム
