フラッシュ法熱物性測定装置

NETZSCH

LFA447 NanoFlash

管理責任者：

白川晃

レーザー新世代研究センター

設置場所：

東6-149

装置概要

• パルス光を試料に照射し、温度上昇を赤外検出器で測定し、その上昇率から熱拡散率を決定。熱源、温度計ともに非接触型のため、高精度測定が可能。
• 比較法による比熱容量、熱伝導率測定。
• 自動試料交換機能（4試料）により1回の昇温で複数の測定が可能。
• 異方性試料、薄膜、多層試料、粉体、液体など様々な試料を測定可能。
• 熱損失を考慮した多層試料の解析、透明試料の解析など解析モデルが充実。
• 基本性能
  • 測定温度範囲：室温～300℃
  • 熱拡散率測定範囲：0.01～1000mm2/s（試料の厚さによる）
  • 熱伝導率測定範囲：0.1～2000W/(mK)（試料の厚さによる）
  • 熱拡散率測定精度・再現性：±5%以内（標準試料）

測定例

測定できる物質、状態、大きさ等

• 固体、異方性試料、薄膜、多層試料、粉体、液体
• 固体試料寸法：0.1～6mm厚、φ6mm～25.4mm角
• （10mm角以外の試料についてはホルダーを作製する必要あり）
• 付属試料ホルダー
  • 10mm×10mm固体試料ホルダー　４個
  • 面内測定（異方性材料・薄膜）用ホルダー（インプレーン、ラメラー）　各１個
  • 粉体測定用ホルダー　１個
  • 液体測定用ホルダー　１個
• 比熱容量・熱伝導率測定の場合、試料表面をカーボンコートする必要あり（容易に拭き取れる）。
  透明試料の場合は金蒸着＋カーボンコート推奨。