この設備の利用申請は（予約システムから教職員が行う）はライセンスが発行された後に行ってください。
（詳細はTEMライセンス制をご覧ください。）
| 日本電子(株) | JEM-2010 | 管理責任者： | 桑原大介 | 研究設備センター | 設置場所： | 東6-102 |
装置概要
- 結晶構造の観察と微小領域の分析を同時に行える．
- 最高水準の球面収差，色収差係数の対物レンズとアンチコンタミネーションコールドトラップやEDS検出器をそなえ， 0.2nm以下の分解能とナノメートル領域分析が可能．
測定例
湿式法で作製したZnSe微粒子の高分解能電顕像。
2～3nmの粒子サイズに相当する格子縞が見られる。
77Kで累積ひずみ6までMDF加工した際に生成した
ナノ結晶粒組織．この組織の平均粒径は20nm．
