| Brucker 社 | ELEXSYS | 管理責任者： | 石田尚行 | 基盤理工学専攻 | 設置場所： | 東6-138-1 |
装置概要
- 静磁場中に置かれた常磁性体中の不対電子にマイクロ波を照射し，吸収信号を観測する装置 （不対電子は静磁場中に置かれた時，二つのエネルギー状態に分裂する）
- 液体ヘリウムあるいは液体窒素を用いたクライオスタットの利用により低温の測定が可能
- 光照射用キャビティ、スピン定量用デュアルキャビティ、プログラマブルゴニオメーターを 用いた測定が可能
- 用途
- 化学変化に伴う中間体の確認・追跡
- 高スピン化合物のスピン多重度の決定
- 生体分子系の集合状態や運動状態の解明
- 固体表面の格子欠陥の構造解析
