平成25年6月19日
教職員 各位
| 研究設備センター長 | 鈴木 勝 |
| レーザー新世代研究センター | 白川 晃 |
フラッシュ法熱物性測定装置 操作講習会のお知らせ
平成25年度『フラッシュ法熱物性測定装置 LFA447』の操作講習会を開催します．
参加希望の方は 7月3日（水）までに，研究設備センターまでお申し込みください．
※研究室単位で申し込みをお願いします．
※応募者多数の場合は，研究室の何人かの代表者に受講していただく場合もあります．
記
| 利用講習会 | |
|---|---|
| 日時： | 7月17日（水）10時～15時 |
| 場所： | 東6号館149号室 |
| 内容： | 基本的な利用方法，熱拡散率・比熱容量・熱伝導率の測定法の説明及び実習 |
| 参加資格： | 教職員と4年生以上の学生 |
| 費用： | 無料 |
| 申込先： | kamimizu@cia.uec.ac.jp（研究設備センター・神水 内線5732） |
| 申込締切： | 7/3（水） |
| 装置の詳細： | NETZSCH キセノンフラッシュアナライザー LFA447 NanoFlash 温度可変範囲：室温～300C 試料寸法： 0.1～6mm厚,Φ6mm～25.4mm角（照射エリア25.4mm角以上） 熱拡散率測定範囲： 0.01～1000mm2/s 比較法による比熱容量、熱伝導率測定 熱伝導率測定範囲： 0.1-2000W/m/K 異方性試料、薄膜、多層試料、粉体、液体など様々な試料を測定可能 |
| 装置紹介 ページ： | http://www.cia.uec.ac.jp/hp/webpages/setsubi2011/n31nanoflash.html |