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設備紹介　フラッシュ法熱物性測定装置

管理情報

製品名	：	Bruker AXS	NETZSCH LFA447 NanoFlash
管理部門	：	基盤研究設備部門	分析・計測機器室
管理責任者	：	白川晃	レーザー新世代研究センター
担当者	：	桑原大介	研究設備センター

装置概要

パルス光を試料に照射し、温度上昇を赤外検出器で測定し、その上昇率から熱拡散率を決定。熱源、温度計ともに非接触型のため、高精度測定が可能。
比較法による比熱容量、熱伝導率測定。
自動試料交換機能（4試料）により1回の昇温で複数の測定が可能。
異方性試料、薄膜、多層試料、粉体、液体など様々な試料を測定可能。
熱損失を考慮した多層試料の解析、透明試料の解析など解析モデルが充実。
基本性能
- 測定温度範囲：室温～300℃
- 熱拡散率測定範囲：0.01～1000mm²/s（試料の厚さによる）
- 熱伝導率測定範囲：0.1～2000W/(mK)（試料の厚さによる）
- 熱拡散率測定精度・再現性：±5%以内（標準試料）

測定例

温度上昇曲線。試料はCa₂MgSi₂O₇結晶（厚さ1.56mm、温度80度）。

Ca₂MgSi₂O₇結晶の（or上記／左記結晶の）熱拡散率の温度依存性。
相転移による特異な振る舞いが観測されている。

測定できる物質、状態、大きさ等

固体、異方性試料、薄膜、多層試料、粉体、液体
固体試料寸法：0.1～6mm厚、φ6mm～25.4mm角
（10mm角以外の試料についてはホルダーを作製する必要あり）
付属試料ホルダー
- 10mm×10mm固体試料ホルダー　４個
- 面内測定（異方性材料・薄膜）用ホルダー（インプレーン、ラメラー）　各１個
- 粉体測定用ホルダー　１個
- 液体測定用ホルダー　１個
比熱容量・熱伝導率測定の場合、試料表面をカーボンコートする必要あり（容易に拭き取れる）。
透明試料の場合は金蒸着＋カーボンコート推奨。