自動測定・遠隔操作の手引き
表面・界面構造解析室（基盤研究設備部門）
| X線光電子分光装置 | （日本電子，JPS-9200） |
| 結晶方位分散分析走査電子顕微鏡 | （日立（株），S-4300/EBSD） |
| 200ｋV熱電子放出型透過型電子顕微鏡 | （日本電子（株），JEM-2010） |
| 200ｋV電界放出型透過型電子顕微鏡 | （日本電子（株），JEM-2100F） |
| 電子線元素状態分析装置 | （日本電子（株），JXA-8530F) |
化学構造解析室（基盤研究設備部門）
| 超伝導フーリエ変換ＮＭＲ（500MHz） | （日本電子(株)，ECA-500） |
| LCQイオントラップ型質量分析計 | （Thermo Scientific社、LCQ Fleet） |
| 円二色性分散計 | （日本分光（株），J-720W） |
| MALDI-スパイラルTOF 質量分析装置 | （） |
| 熱分析装置 | （（株)リガク，DSC8230・TG8120） |
| CCD型単結晶X線回折装置 | （（株）リガク，Saturn70 CCD） |
| DSC粉末X線同時測定装置 | （（株）リガク，Ultima III） |
| 精密構造解析用X線回折装置 | （（株）リガク，） |
| ESI - TOF型質量分析装置 | （日本電子（株），JMS-T100 AccuTOF) |
| 有機元素分析装置 | （PerkinElmer、Series II CHNS/O 2400） |
| 共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡 | （Carl Zweiss, LSM710） |
| 高速液体クロマトグラフィーシステム | (バイオ・ラッド(株)、NGC Quest 10 plus) |
分析・計測機器室（基盤研究設備部門）
| 最先端三次元形状測定・評価システム | （ZWEISS, PRISMO Navigator 5 S-ACC mass） |
| 超伝導量子干渉型磁束計 | （Quantum Design社，MPMS-XL7） |
| （Quantum Design社、MPMS-5） | |
| 超伝導量子干渉型磁束計 | （MPMS3） |
| 電子スピン共鳴装置 | （Brucker 社， ELEXSYS） |
| 高磁場多目的物性測定システム | （Quantum Design社，PPMS） |
| 高速応答FT-IR | （Thermo Scientific社， Nicolet 6700） |
| 顕微レーザーラマン分光計 | （日本分光（株），NRS-3100） |
| 温度可変ホール測定装置 | （ケースレー） |
| マクロフォトルミネッセンス測定装置 | （堀場製作所、PHOTOLUMINATOR） |
| フラッシュ法熱物性測定装置 | （Bruker AXS、NETZSCH LFA447 NanoFlash） |
| 示差走査熱量計 | （NETZSCH DSC3500） |
| 絶対PL量子収率測定装置 | （浜松フォトニクス、Quantaurus-QY） |
| 電波暗室 | （TDK-EPC(株)，(株)デバイス，Agilent Tech.(株)） |
| 無響室 | |
| 最先端材料特性評価システム |
低温室（低温部門）
| ヘリウム液化システム | （小池酸素工業（株）） |
自動測定・遠隔操作の手引き
| 顕微レーザーラマン分光計 | （pdfファイル） |
| DSC粉末X線同時測定装置 | （準備中） |
| 超伝導フーリエ変換ＮＭＲ（500MHz） | （pdfファイル） |
| 超伝導量子干渉型磁束計SQUID | （pdfファイル） |
| CCD型単結晶X線回折装置 | （pdfファイル） |
| 高磁場多目的物性測定システムPPMS | （pdfファイル） |
| 高速応答FT-IR | （pdfファイル） |
| 最先端三次元形状測定・評価システム | （pdfファイル） |
| 共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡 | （pdfファイル） |
| 電子線元素状態分析装置 | （pdfファイル） |
| 小動物代謝モニタリング装置 | （pdfファイル） |
| Dektak | （pdfファイル） |
| 有機金属気相成長装置 | （pdfファイル） |
| 高分解能 X 線回折装置 | （pdfファイル） |
【学内向け】携帯用小設備
| サーベイメータ | （ROTEM社，RAM DA-2000，IC-10A-P ） |
| ポケット線量計 | （ALOKA社，PDM-122-SZ） |