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設備紹介 DSC粉末X線同時測定装置 

管理情報

製品名(株)リガクUltima III
管理部門基盤研究設備部門化学構造解析室
管理責任者安井正憲基​盤​理​工​学​専​攻

装置概要

測定例

Si(100)基板上に結晶成長させたEr-Si-O超格子結晶のθ2θスキャン測定結果

測定できる物質、状態、大きさ等