設備紹介 DSC粉末X線同時測定装置
管理情報
| 製品名 | ： | （株）リガク | Ultima III |
| 管理部門 | ： | 基盤研究設備部門 | 化学構造解析室 |
| 管理責任者 | ： | 安井正憲 | 基盤理工学専攻 |
装置概要
- 各種粉末結晶からの回折データの測定を行う．
- X線光学系には集中法と平行ビーム法が選択でき，ほぼ自動的に光学軸の設定が行える．
制御PCには自動測定プログラム，ピークサーチプログラムなどのほか，JADE6ではPDF（粉末回折データベース） の検索が可能で，定性分析ができる． - DSCアタッチメントを装着すると，示差走査熱量測定（DSC）とX線回折データ測定が同時に行え， 相転移による構造変化と熱量の出入りが同一のサンプルで測定可能となる．
測定例
Si(100)基板上に結晶成長させたEr-Si-O超格子結晶のθ2θスキャン測定結果
測定できる物質、状態、大きさ等
- 測定温度範囲は液体窒素を用いて-40℃～+350℃ 程度．
- DSC測定データはリガクDSC装置と互換がある．
- 多目的測定アタッチメントの装着により，薄膜試料の測定（薄膜の粉末X線回折測定， 薄膜の正極点測定，残留応力測定）が可能となる．
- 通常の粉末X線回折データ測定にはガラス試料板を用いる（試料は0.5ml程度必要）．
- 微量サンプルや，リートベルト解析などのために強度データの高精度測定が必要な場合は， X線用ガラスキャピラリーに入れて測定する．（付属のキャピラリー回転試料台を設置する）．